ISO 3951-1:2022
(Main)Sampling procedures for inspection by variables — Part 1: Specification for single sampling plans indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection for a single quality characteristic and a single AQL
Sampling procedures for inspection by variables — Part 1: Specification for single sampling plans indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection for a single quality characteristic and a single AQL
This document specifies single sampling plans for lot-by-lot inspection under the following conditions: a) where the inspection procedure is applied to a continuing series of lots of discrete products, all supplied by one producer using one production process; b) where only a single quality characteristic, x, of these products is taken into consideration, which is measurable on a continuous scale; c) where production is under statistical control and the quality characteristic, x, is distributed according to a normal distribution or a close approximation to the normal distribution; d) where a contract or standard defines a lower specification limit, L, an upper specification limit, U, or both. An item is qualified as conforming if its measured quality characteristic, x, satisfies as appropriate one of the following inequalities: 1) x ≥ L (i.e. the lower specification limit is not violated); 2) x ≤ U (i.e. the upper specification limit is not violated); 3) x ≥ L and x ≤ U (i.e. neither the lower nor the upper specification limit is violated). Inequalities 1) and 2) are cases with a single specification limit, and 3) is a case with double specification limits. Where double specification limits apply, it is assumed in this document that conformity to both specification limits is equally important to the integrity of the product. In such cases, it is appropriate to apply a single AQL to the combined percentage of a product outside the two specification limits. This is referred to as combined control.
Règles d'échantillonnage pour les contrôles par mesures — Partie 1: Spécification pour les plans d’échantillonnage simples indexés d’après un niveau de qualité acceptable (NQA) pour un contrôle lot par lot pour une caractéristique qualité unique et un NQA unique
Le présent document spécifie des plans d’échantillonnage simples pour un contrôle lot par lot dans les conditions suivantes: a) lorsque la procédure de contrôle est appliquée à une série continue de lots de produits distincts, tous fournis par un même producteur utilisant un procédé de production unique; b) lorsqu’une seule caractéristique qualité x de ces produits est prise en compte et qu’elle est mesurable sur une échelle continue; c) lorsque la production est statistiquement maîtrisée et que la caractéristique qualité x est distribuée selon une loi normale ou une approximation proche d’une distribution normale; d) lorsqu’un contrat ou une norme définit une limite de spécification inférieure, L, une limite de spécification supérieure, U, ou les deux. Un individu est qualifié de conforme si sa caractéristique qualité mesurée x satisfait à la condition appropriée parmi les inégalités suivantes: 1) x ≥ L (c’est-à-dire que la limite de spécification inférieure n’est pas dépassée); 2) x ≤ U (c’est-à-dire que la limite de spécification supérieure n’est pas dépassée); 3) x ≥ L et x ≤ U (c’est-à-dire qu’aucune des limites de spécification inférieure et supérieure n’est dépassée). Les conditions 1) et 2) sont des cas à limite de spécification simple et 3) est un cas à limite de spécification double. Lorsque la limite de spécification double s’applique, le présent document présume que la conformité aux deux limites de spécification présente la même importance pour l’intégrité du produit. Dans ce cas, il est approprié d’appliquer un seul NQA au pourcentage combiné d’un produit situé hors des deux limites de spécification. Le contrôle est alors dit combiné.
Postopki vzorčenja za kontrolo po številskih spremenljivkah - 1. del: Specifikacija enojnih vzorčnih načrtov, razvrščenih po prevzemni meji kakovosti (AQL), za kontrolo zaporednih partij za posamezno karakteristiko kakovosti in posamezno AQL
Ta dokument določa posamezne načrte vzorčenja za pregled po posameznih serijah pod naslednjimi pogoji:
a) kadar se pregleduje trajen skop serij diskretnih izdelkov, vse dobavlja en proizvajalec z enim proizvodnim postopkom;
b) kadar se upošteva samo ena karakteristika kakovosti teh proizvodov, tj. x, ki jo je mogoče meriti na neprekinjeni lestvici;
c) kadar je proizvodnja pod statističnim nadzorom in je karakteristika kakovosti x porazdeljena v skladu z normalno porazdelitvijo ali bližnjim približkom normalne porazdelitve;
d) kadar pogodba ali standard določa spodnjo mejo specifikacije, L, zgornjo mejo specifikacije, U, ali oboje. Element se šteje za skladnega izključno če njegova merjena karakteristika kakovosti x izpolnjuje eno od naslednjih ustreznih neenakosti:
1) x ≥ U (tj. spodnja specifikacijska mejna vrednost ni prekoračena);
2) x ≤ U (tj. zgornja specifikacijska mejna vrednost ni prekoračena);
3) x ≥ L in x ≤ U (tj. ne spodnja ne zgornja specifikacijska mejna vrednost nista prekoračeni).
Neenakosti 1) in 2) sta primera z eno specifikacijsko mejno vrednostjo, 3) pa primer z dvema specifikacijskima mejnima vrednostma.
Kadar se uporabljata dve specifikacijski mejni vrednosti, se v tem dokumentu predpostavlja, da je skladnost z obema mejnima vrednostma enako pomembna za integriteto izdelka. V takih primerih je primerno uporabiti enojno prevzemno mejo kakovosti za kombinirani odstotek izdelka zunaj dveh specifikacijskih mejnih vrednosti. To se imenuje kombinirani nadzor.
General Information
Relations
Standards Content (Sample)
SLOVENSKI STANDARD
01-april-2023
Postopki vzorčenja za kontrolo po številskih spremenljivkah - 1. del: Specifikacija
enojnih vzorčnih načrtov, razvrščenih po prevzemni meji kakovosti (AQL), za
kontrolo zaporednih partij za posamezno karakteristiko kakovosti in posamezno
AQL
Sampling procedures for inspection by variables - Part 1: Specification for single
sampling plans indexed by acceptance quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection for a
single quality characteristic and a single AQL
Règles d'échantillonnage pour les contrôles par mesures — Partie 1: Spécification pour
les plans d’échantillonnage simples indexés d’après un niveau de qualité acceptable
(NQA) pour un contrôle lot par lot pour une caractéristique qualité unique et un NQA
unique
Ta slovenski standard je istoveten z: ISO 3951-1:2022
ICS:
03.120.30 Uporaba statističnih metod Application of statistical
methods
2003-01.Slovenski inštitut za standardizacijo. Razmnoževanje celote ali delov tega standarda ni dovoljeno.
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 3951-1
Third edition
2022-08
Sampling procedures for inspection by
variables —
Part 1:
Specification for single sampling plans
indexed by acceptance quality limit
(AQL) for lot-by-lot inspection for a
single quality characteristic and a
single AQL
Règles d'échantillonnage pour les contrôles par mesures —
Partie 1: Spécification pour les plans d’échantillonnage simples
indexés d’après un niveau de qualité acceptable (NQA) pour un
contrôle lot par lot pour une caractéristique qualité unique et
un NQA unique
Reference number
© ISO 2022
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on
the internet or an intranet, without prior written permission. Permission can be requested from either ISO at the address below
or ISO’s member body in the country of the requester.
ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Geneva
Phone: +41 22 749 01 11
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii
Contents Page
Foreword .v
Introduction . vi
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 2
4 Symbols . 6
5 Choice of a sampling plan . 7
5.1 Choice between variables and attributes . 7
5.2 General . 8
5.3 Choice between the s-method and σ-method . 8
5.4 Choice of inspection level and AQL . 9
6 Standard procedures for the s-method.10
6.1 General . 10
6.2 Single specification limits . . 10
6.3 Double specification limits . 11
7 Standard procedures for the σ-method .11
7.1 General . 11
7.2 Single specification limits . . 11
7.3 Double specification limits .12
8 The p*-method .12
9 Switching between inspection severities .13
9.1 Rules for switching between inspection severities . 14
9.2 Records for switching between inspection severities . 15
10 Relation to ISO 2859-1 .15
10.1 Similarities . 15
10.2 Differences . 16
11 Allowing for measurement uncertainty .17
12 Normality, data transformations and outliers .17
12.1 Normality . 17
12.2 Data transformations . 17
12.3 Outliers . 18
13 Monitoring and recording of inspection results .18
13.1 Monitoring of inspection results . 18
13.2 Process capability and performance assessment . 18
13.3 Monitoring of process parameters . 18
14 Tables .19
14.1 Form k for single sampling plans: s-method. 19
14.2 Form k for single sampling plans: σ-method. 26
14.3 Form p* single sampling plans . 33
14.4 Values of f for maximum process standard deviation (MPSD) .40
σ
14.5 Supplementary acceptance constants for qualifying towards reduced inspection .40
15 Examples .41
15.1 General . 41
15.2 Examples for the s-method . 41
15.3 Examples for the σ-method .48
15.4 Examples for the p*-method . 52
Annex A (informative) Procedures for obtaining s and σ.55
iii
Annex B (informative) Accommodating measurement variability .58
Annex C (informative) Sampling strategies .63
Annex D (informative) Operating characteristics for the σ–method .65
Annex E (informative) Operating characteristic for the s-method – tabulated values for
single sampling plans, normal inspection .66
Annex F (informative) Consumer’s risk qualities .75
Annex G (informative) Producer’s risks.82
Annex H (informative) Construction of acceptance diagrams for double specification limits .90
Annex I (informative) Use of the underlying software. 101
Bibliography . 106
iv
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does
...
INTERNATIONAL ISO
STANDARD 3951-1
Third edition
2022-08
Sampling procedures for inspection by
variables —
Part 1:
Specification for single sampling plans
indexed by acceptance quality limit
(AQL) for lot-by-lot inspection for a
single quality characteristic and a
single AQL
Règles d'échantillonnage pour les contrôles par mesures —
Partie 1: Spécification pour les plans d’échantillonnage simples
indexés d’après un niveau de qualité acceptable (NQA) pour un
contrôle lot par lot pour une caractéristique qualité unique et
un NQA unique
Reference number
© ISO 2022
All rights reserved. Unless otherwise specified, or required in the context of its implementation, no part of this publication may
be reproduced or utilized otherwise in any form or by any means, electronic or mechanical, including photocopying, or posting on
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ISO copyright office
CP 401 • Ch. de Blandonnet 8
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Phone: +41 22 749 01 11
Email: copyright@iso.org
Website: www.iso.org
Published in Switzerland
ii
Contents Page
Foreword .v
Introduction . vi
1 Scope . 1
2 Normative references . 1
3 Terms and definitions . 2
4 Symbols . 6
5 Choice of a sampling plan . 7
5.1 Choice between variables and attributes . 7
5.2 General . 8
5.3 Choice between the s-method and σ-method . 8
5.4 Choice of inspection level and AQL . 9
6 Standard procedures for the s-method.10
6.1 General . 10
6.2 Single specification limits . . 10
6.3 Double specification limits . 11
7 Standard procedures for the σ-method .11
7.1 General . 11
7.2 Single specification limits . . 11
7.3 Double specification limits .12
8 The p*-method .12
9 Switching between inspection severities .13
9.1 Rules for switching between inspection severities . 14
9.2 Records for switching between inspection severities . 15
10 Relation to ISO 2859-1 .15
10.1 Similarities . 15
10.2 Differences . 16
11 Allowing for measurement uncertainty .17
12 Normality, data transformations and outliers .17
12.1 Normality . 17
12.2 Data transformations . 17
12.3 Outliers . 18
13 Monitoring and recording of inspection results .18
13.1 Monitoring of inspection results . 18
13.2 Process capability and performance assessment . 18
13.3 Monitoring of process parameters . 18
14 Tables .19
14.1 Form k for single sampling plans: s-method. 19
14.2 Form k for single sampling plans: σ-method. 26
14.3 Form p* single sampling plans . 33
14.4 Values of f for maximum process standard deviation (MPSD) .40
σ
14.5 Supplementary acceptance constants for qualifying towards reduced inspection .40
15 Examples .41
15.1 General . 41
15.2 Examples for the s-method . 41
15.3 Examples for the σ-method .48
15.4 Examples for the p*-method . 52
Annex A (informative) Procedures for obtaining s and σ.55
iii
Annex B (informative) Accommodating measurement variability .58
Annex C (informative) Sampling strategies .63
Annex D (informative) Operating characteristics for the σ–method .65
Annex E (informative) Operating characteristic for the s-method – tabulated values for
single sampling plans, normal inspection .66
Annex F (informative) Consumer’s risk qualities .75
Annex G (informative) Producer’s risks.82
Annex H (informative) Construction of acceptance diagrams for double specification limits .90
Annex I (informative) Use of the underlying software. 101
Bibliography . 106
iv
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national standards
bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally carried out
through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a technical
committee has been established has the right to be represented on that committee. International
organizations, governmental and non-governmental, in liaison with ISO, also take part in the work.
ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all matters of
electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to
the World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT), see
www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 69, Applications of statistical methods,
Subcommittee SC 5, Acceptance sampling.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 3591-1:2013), which has been technically
revised.
The main changes are as follows:
— procedures have been introduced to accommodate measurement uncertainty;
— many of the sampling plans have been adjusted to improve the match between their operating
characteristic curves and the operating characteristic curves of the corresponding plans for single
sampling by attributes in ISO 2859-1.
A list of all parts in the ISO 3951 series can be found on the ISO website.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www.iso.org/members.html.
v
ISO 3951-
...
NORME ISO
INTERNATIONALE 3951-1
Troisième édition
2022-08
Règles d'échantillonnage pour les
contrôles par mesures —
Partie 1:
Spécification pour les plans
d’échantillonnage simples indexés
d’après un niveau de qualité
acceptable (NQA) pour un contrôle
lot par lot pour une caractéristique
qualité unique et un NQA unique
Sampling procedures for inspection by variables —
Part 1: Specification for single sampling plans indexed by acceptance
quality limit (AQL) for lot-by-lot inspection for a single quality
characteristic and a single AQL
Numéro de référence
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2022
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii
Sommaire Page
Avant-propos .v
Introduction . vi
1 Domaine d’application . 1
2 Références normatives .1
3 Termes et définitions . 2
4 Symboles . 6
5 Choix d’un plan d’échantillonnage .7
5.1 Choix entre mesures et attributs . 7
5.2 Généralités . 8
5.3 Choix entre les méthodes s et σ . . 9
5.4 Choix du niveau de contrôle et du NQA . 9
6 Procédures normalisées pour la méthode s .11
6.1 Généralités . 11
6.2 Limites de spécification simples . 11
6.3 Limites de spécification doubles .12
7 Procédures normalisées pour la méthode σ .12
7.1 Généralités .12
7.2 Limites de spécification simples .12
7.3 Limites de spécification doubles . 13
8 Méthode p* .13
9 Modification de la sévérité du contrôle .14
9.1 Règles de modification de la sévérité du contrôle . 15
9.2 Enregistrements de modification de la sévérité du contrôle . 16
10 Relation avec l’ISO 2859-1 .17
10.1 Similitudes . 17
10.2 Différences . 17
11 Prise en compte de l’incertitude de mesure .18
12 Normalité, transformations de données et valeurs aberrantes .18
12.1 Normalité. 18
12.2 Transformations de données . 19
12.3 Valeurs aberrantes . 19
13 Surveillance et enregistrement des résultats du contrôle .19
13.1 Surveillance des résultats du contrôle . 19
13.2 Capacité du processus et évaluation des performances . 19
13.3 Surveillance des paramètres du processus . 20
14 Tableaux .20
14.1 Plans d’échantillonnage simples du formulaire k: méthode s . 20
14.2 Plans d’échantillonnage simples du formulaire k: méthode σ . 27
14.3 Plans d’échantillonnage simples du formulaire p* .34
14.4 Valeurs de f pour l’écart-type maximal du processus (ETMP) . 41
σ
14.5 Constantes d’acceptation supplémentaires pour le passage au contrôle réduit . 41
15 Exemples .42
15.1 Généralités . 42
15.2 Exemples relatifs à la méthode s . 42
15.3 Exemples relatifs à la méthode σ . 50
15.4 Exemples relatifs à la méthode p* .54
Annexe A (informative) Procédures pour l’obtention de s et σ .58
iii
Annexe B (informative) Prise en compte de la variabilité des mesurages .61
Annexe C (informative) Stratégies d’échantillonnage .66
Annexe D (informative) Courbes d’efficacité pour la méthode σ .68
Annexe E (informative) Courbes d’efficacité pour la méthode s – tableaux de valeurs
pour les plans d’échantillonnage simples pour un contrôle normal .69
Annexe F (informative) Qualité du risque du client .78
Annexe G (informative) Risques du fournisseur.85
Annexe H (informative) Construction de diagrammes d’acceptation pour les limites de
spécification doubles.93
Annexe I (informative) Utilisation du logiciel associé . 104
Bibliographie . 109
iv
Avant-propos
L’ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d’organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l’ISO). L’élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l’ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l’ISO participent également aux travaux.
L’ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d’approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document
a été rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2
(voir www.iso.org/directives).
L’attention est appelée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l’objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L’ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l’élaboration du document sont indiqués dans l’Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l’ISO (voir www.iso.org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l’ISO liés à l’évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l’adhésion
de l’ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir le lien suivant: www.iso.org/iso/fr/avant-propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 69, Application des méthodes
statistiques, sous-comité SC 5, Échantillonnage en vue d’acceptation.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 3591-1:2013), qui a fait l’objet d’une
révision technique.
Les principales modifications sont les suivantes:
— des procédures ont été introduites pour tenir compte de l’incertitude de mesure;
— de nombreux plans d’échantillonnage ont été modifiés pour améliorer la correspondance entre leurs
courbes d’efficacité et les courbes d’efficacité des plans correspondants pour un échantillonnage
simple par attributs dans l’ISO 2859-1.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 3951
...
Questions, Comments and Discussion
Ask us and Technical Secretary will try to provide an answer. You can facilitate discussion about the standard in here.