ISO 10110-14:2018

INTERNATIONAL STANDARD
Deleted: /FDIS
ISO
10110-14
Third edition Deleted: FINAL¶
DRAFT¶
2018-10
Optics and photonics — Preparation of drawings for
optical elements and systems —
Part 14:Wavefront deformation tolerance
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et systèmes optiques —
Partie 14: Tolérance de déformation du front d'onde

2 © ISO 2018 – All rights reserved

Contents  Page
Foreword . 1
Introduction . 2
1 Scope . 3
2 Normative references . 3
3 Terms and definitions . 3
4 Specification of tolerances for wavefront deformation . 3
4.1 General . 3
4.2 Units . 4
4.3 Wavelength . 5
4.4 Target aberrations . 5
5 Indication in drawings . 5
5.1 General . 5
5.2 Code number . 5
5.3 Area . 8
5.4 Location . 8
5.5 Indication of the object point location . 10
5.6 Specification of the image point location . 10
5.7 Indication of target aberrations . 11
6 Examples of tolerance indications . 11
Bibliography . 13
Deleted: Page¶
Foreword
ISO (the International Organization for Standardization) is a worldwide federation of national
standards bodies (ISO member bodies). The work of preparing International Standards is normally
carried out through ISO technical committees. Each member body interested in a subject for which a
technical committee has been established has the right to be represented on that committee.
International organizations, governmental and non‐governmental, in liaison with ISO, also take part in
the work. ISO collaborates closely with the International Electrotechnical Commission (IEC) on all
matters of electrotechnical standardization.
The procedures used to develop this document and those intended for its further maintenance are
described in the ISO/IEC Directives, Part 1. In particular, the different approval criteria needed for the
different types of ISO documents should be noted. This document was drafted in accordance with the
editorial rules of the ISO/IEC Directives, Part 2 (see www.iso.org/directives).
Attention is drawn to the possibility that some of the elements of this document may be the subject of
patent rights. ISO shall not be held responsible for identifying any or all such patent rights. Details of
any patent rights identified during the development of the document will be in the Introduction and/or
on the ISO list of patent declarations received (see www.iso.org/patents).
Any trade name used in this document is information given for the convenience of users and does not
constitute an endorsement.
For an explanation of the voluntary nature of standards, the meaning of ISO specific terms and Deleted: on
expressions related to conformity assessment, as well as information about ISO's adherence to the
World Trade Organization (WTO) principles in the Technical Barriers to Trade (TBT) see the following
URL: www.iso.org/iso/foreword.html.
This document was prepared by Technical Committee ISO/TC 172, Optics and photonics, Subcommittee
SC 1, Fundamental standards.
This third edition cancels and replaces the second edition (ISO 10110‐14:2007), which has been
technically revised. The main changes compared to the previous edition are as follows: Deleted: and which contains the
following changes
— this document has been adjusted to ISO 10110‐5 which includes the use of general surfaces.
— a new subclause “Additional forms” has been added as 5.2.2, which includes “PV and robust PV
wavefront deviation” and “Wavefront deviation described by Zernike coefficients”.
— examples have been added in Clause 6.
— subclause 4.5 has been deleted.
A list of all parts in the ISO 10110 series can be found on the ISO website.
Any feedback or questions on this document should be directed to the user’s national standards body. A
complete listing of these bodies can be found at www.iso.org/members.html.

Introduction
This document makes it possible to specify a functional tolerance for the performance (expressed as
single‐pass wavefront deformation) of an optical system, which may have optical power or contain
powered optical elements. This tolerance therefore includes the effect of surface form deformations,
inhomogeneities, and possible interactions among the various individual errors.
Optical elements are often tested in a “double‐pass” configuration, in which the wavefront passes
through or, in the case of reflective optics, reflects from the element under test twice, as shown in
ISO/TR 14999‐1:2005, Figure 18.

2 © ISO 2018 – All rights reserved

Optics and photonics — Preparation of drawings for optical
elements and systems — Part 14: Wavefront deformation
tolerance
1 Scope
This document specifies rules for the indication of the permissible deformation of a wavefront Deleted: The ISO 10110 series applies
to the presentation of design and
transmitted through or, in the case of reflective optics, reflected from an optical element or assembly in
functional requirements for optical
the ISO 10110 series, which standardizes drawing indications for optical elements and systems.
elements and assemblies in technical
drawings used for manufacturing and
This document is also applicable when using optical systems with general surfaces (ISO 10110‐19).
inspection.¶
Deleted: . There is a possibility that
The deformation of the wavefront refers to its departure from the desired shape. The tilt of the
this document is also be used
wavefront with respect to a given reference surface is excluded from this document.
There is no requirement that a tolerance for wavefront deformation is indicated.
2 Normative references
The following documents are referred to in the text in such a way that some or all of their content
constitutes requirements of this document. For dated references, only the edition cited applies. For
undated references, the latest edition of the referenced document (including any amendments) applies.
ISO 10110‐1, Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 1:
General
ISO 14999‐4, Optics and photonics — Interferometric measurement of optical elements and optical
systems — Part 4: Interpretation and evaluation of tolerances specified in ISO 10110
3 Terms and definitions
For the purposes of this document, the terms and definitions given in ISO 14999‐4 apply.
ISO and IEC maintain terminological databases for use in standardization at the following addresses:
— ISO Online browsing platform: available at https://www.iso.org/obp Moved (insertion) [1]
— IEC Electropedia: available at https://www.electropedia.org/
Moved up [1]: — ISO Online
browsing platform: available at
https://www.iso.org/obp¶
NOTE ISO 14999‐4 provides the definitions for all the deformation functions.
4 Specification of tolerances for wavefront deformation
4.1 General
It should be noted that it is possible to specify a tolerance on the wavefront deformation only ‐ without
specifying tolerances on the individual surfaces. In this case, the manufacturer has to ensure that the
wavefront satisfies the specified tolerance. However, the manufacturer is not bound by tolerances on Deleted: , but
the form of the individual surfaces of the element or system. The manufacturer is free, for instance, to
Deleted: , and
allow the surface form deformations to be large provided they cancel each other.
It is also possible to supply a tolerance for the wavefront deformation, according to this document, in
addition to tolerances on the form of the individual surfaces and/or inhomogeneity (according to
Deleted: 4
ISO 10110‐5 and ISO 10110‐18, respectively). In this case, the manufacturer has to ensure that all of

Under preparation.
the individual tolerances (surface form tolerances and material imperfections) are upheld, as well as
ensuring that the wavefront is of the specified quality.
In the case of double‐pass testing, the additional wavefront deformation caused by the second
transmission through the element has to be accounted for when comparing the measurement results
with the specified tolerances. If the wavefront is not severely deformed by passing once through the
element under test, and reflects from a high quality mirror, so that it returns through the identical
portion of the test element to the interferometer, then the observed deformation of the wavefront is
twice the (single‐pass) wavefront deformation (defined in ISO 14999‐4). That is, the wavefront
deformation is one‐half the observed wavefront deformation.
If the wavefront is severely deformed by the element under test, then the individual rays do not pass
through the same positions in the element under test on their return path, and the wavefront
deformation is not exactly twice that of the single path case.
The given wavefront deformation is only valid at the specified wavelength.
The tolerances for wavefront deformation are indicated by specifying the maximum permissible values
of the power deviation, irregularity, and/or rotationally invariant irregularity. In addition, tolerances
for three root‐mean‐square measures of wavefront deformation (rms total, rms irregularity and rms
rotationally varying irregularity) may be specified. See ISO 14999‐4 for definitions.
NOTE 1 The power deviation is meaningful only when the location of the image is specified. If the location of
the image is unspecified, the power deviation is defined to be zero.
NOTE 2 Methods for determining the amount of power deviation, irregularity and rotationally invariant
irregularity of a wavefront are given in ISO 14999‐4.
It is not necessary that tolerances be specified for all types of wavefront deformation.
There is no requirement that a tolerance for wavefront deformation be indicated. If such a tolerance is
specified, it does not take precedence over a surface form tolerance according to ISO 10110‐5. If
tolerances for both the surface form and the wavefront deformation are given, they are both to be
upheld.
4.2 Units
The maximum permissible values for power deviation, irregularity, rotationally invariant irregularity
and, if applicable, any target aberrations should be specified in units of nanometres. If wavelengths are
to be used, the wavelength shall also be indicated on the drawing.
NOTE 1 These quantities are defined with reference to a wavefront passing once through the element or
system under test (single‐pass).
If a specification is to be given for one or more rms wavefront deformation types, the specification shall
also be in units of nanometres or wavelengths (single‐pass, see NOTE 1).
NOTE 2 One “wave” is 1 × the wavelength (in nanometres) in which the wavefront deformation is specified.
NOTE 3 The specification of a tolerance for an rms deformation type requires that the optical system be
analysed digitally.
The terminology of interferometry employing the unit “waves” is widely used for the specification of
tolerances. However, the usage of non‐interferometric methods for testing of optical parts has recently
become more important. Therefore, unlike in the earlier versions of this document, “nanometres” is
now the preferred standard unit to express wavefront deviations. The use of waves is still permitted Deleted: and
given that the reference wavelength is explicitly stated.
Deleted: usage
4 © ISO 2018 – All rights reserved

4.3 Wavelength
If wave units are to be used, the wavelength shall also be indicated on the drawing in order to reduce
confusion. If different wavelengths are used for measuring, separately calculated wavefront
deformations are needed and can be provided as alternatives.
4.4 Target aberrations
Frequently, the nominal theoretical wavefront is spherical or planar. In some cases, to allow for the
presence of small amounts of
...

NORME ISO
INTERNATIONALE 10110-14
Troisième édition
2018-11
Optique et photonique — Préparation
des dessins pour éléments et systèmes
optiques —
Partie 14:
Tolérance de déformation du front
d'onde
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements
and systems —
Part 14: Wavefront deformation tolerance
Numéro de référence
©
ISO 2018
DOCUMENT PROTÉGÉ PAR COPYRIGHT
© ISO 2018
Tous droits réservés. Sauf prescription différente ou nécessité dans le contexte de sa mise en œuvre, aucune partie de cette
publication ne peut être reproduite ni utilisée sous quelque forme que ce soit et par aucun procédé, électronique ou mécanique,
y compris la photocopie, ou la diffusion sur l’internet ou sur un intranet, sans autorisation écrite préalable. Une autorisation peut
être demandée à l’ISO à l’adresse ci-après ou au comité membre de l’ISO dans le pays du demandeur.
ISO copyright office
Case postale 401 • Ch. de Blandonnet 8
CH-1214 Vernier, Genève
Tél.: +41 22 749 01 11
Fax: +41 22 749 09 47
E-mail: copyright@iso.org
Web: www.iso.org
Publié en Suisse
ii © ISO 2018 – Tous droits réservés

Sommaire Page
Avant-propos .iv
Introduction .v
1 Domaine d'application . 1
2 Références normatives . 1
3 Termes et définitions . 1
4 Spécifications des tolérances de déformation du front d'onde . 2
4.1 Généralités . 2
4.2 Unités . 2
4.3 Longueur d'onde . 3
4.4 Aberrations cibles . 3
5 Indication sur les dessins . 3
5.1 Généralités . 3
5.2 Numéro de code . 4
5.2.1 Formes basiques . 4
5.2.2 Formes supplémentaires . 6
5.3 Zone . 7
5.4 Position . 7
5.5 Indication de la position du point objet . 9
5.6 Spécification de la position du point image .10
5.7 Indication des aberrations cibles .10
6 Exemples d'indications de tolérance .10
Bibliographie .13
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude
a le droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir www
.iso .org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant
les références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www .iso .org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir www .iso .org/avant -propos.
Le présent document a été élaboré par le comité technique ISO/TC 172, Optique et photonique,
sous-comité SC 1, Normes fondamentales.
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 10110-14:2007), qui a fait l’objet
d’une révision technique. Les principales modifications par rapport à l’édition précédente sont les
suivantes:
— le présent document a été adapté à l'ISO 10110-5 qui inclut l'utilisation des surfaces générales.
— un nouveau paragraphe «Formes supplémentaires» a été ajouté en 5.2.2, qui inclut «l’Écart du front
d’ondes PV et PC robuste» et «l’Écart du front d’ondes décrit par les coefficients Zernike».
— des exemples ont été ajoutés à l’Article 6.
— le paragraphe 4.5 a été supprimé.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 10110 peut être trouvée sur le site internet de l’ISO.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www .iso .org/fr/members .html.
iv © ISO 2018 – Tous droits réservés

Introduction
Le présent document permet de spécifier une tolérance fonctionnelle pour la performance (exprimée
en longueurs d'ondes de déformation du front d'onde en simple passe) d'un système optique. Cette
tolérance comprend donc l'effet des déformations de surface, les hétérogénéités et les interactions
possibles entre les différentes erreurs individuelles.
Les éléments optiques sont souvent soumis à essai dans une configuration en «double passe» où le front
d'onde passe à travers ou, dans le cas des systèmes optiques réfléchissants, se réfléchit sur l'élément
soumis à essai deux fois, comme illustré dans l'ISO/TR 14999-1:2005, Figure 18.
NORME INTERNATIONALE ISO 10110-14:2018(F)
Optique et photonique — Préparation des dessins pour
éléments et systèmes optiques —
Partie 14:
Tolérance de déformation du front d'onde
1 Domaine d'application
Le présent document spécifie des règles pour indiquer la tolérance de déformation d'un front d'onde
transmis à travers ou, dans le cas des systèmes optiques réfléchissants, réfléchi sur un élément ou un
sous-ensemble optique dans la série de l'ISO 10110, qui normalise les indications sur les dessins pour
les systèmes et éléments optiques.
Le présent document s’applique également lorsque les systèmes optiques avec des surfaces générales
sont utilisés (ISO 10110-19).
La déformation du front d'onde se réfère à sa déviation par rapport à la forme souhaitée (front d'onde
théorique nominal). L'inclinaison du front d'onde par rapport à une surface de référence donnée est
exclue du présent document.
Il n'y a pas d'exigence d'indication de la tolérance de déformation du front d'onde.
2 Références normatives
Les documents suivants cités dans le texte constituent, pour tout ou partie de leur contenu, des
exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les
références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y compris les éventuels
amendements).
ISO 10110-1, Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes
optiques — Partie 1: Généralités
ISO 14999-4, Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et de systèmes
optiques — Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans l’ISO 14999-4 s’appliquent.
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https: //www .iso .org/obp
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse http: //www .electropedia .org/
NOTE L'ISO 14999-4 fournit les définitions pour toutes les fonctions de déformation.
4 Spécifications des tolérances de déformation du front d'onde
4.1 Généralités
Il est possible de spécifier une tolérance de déformation du front d'onde uniquement, sans avoir à
spécifier les tolérances de chaque surface. Dans ce cas, le fabricant doit s'assurer que le front d'onde
satisfait à la tolérance spécifiée. Cependant, le fabricant n'est pas lié par les tolérances de forme des
surfaces individuelles de l'élément ou du système. Le fabricantet est libre, par exemple, de tolérer de
fortes déformations de surfaces pourvu qu'elles s'annulent mutuellement.
Il est également possible d'indiquer une tolérance de déformation du front d'onde, selon le présent
document, en plus des tolérances de forme des surfaces individuelles et/ou de l'hétérogénéité
(respectivement selon l'ISO 10110-5 et l'ISO 10110-18). Dans ce cas, le fabricant doit s'assurer que
toutes les tolérances individuelles (tolérances de forme de la surface et imperfections de matériaux)
sont satisfaites et également que le front d'onde possède la qualité spécifiée.
Dans le cas d'un essai en double passe, la déformation supplémentaire du front d'onde, causée pas le
second passage dans l'élément doit être prise en considération lorsque les résultats de mesure sont
comparés avec les tolérances spécifiées. Si le front d'onde n'est pas trop déformé en simple passe
par l'élément soumis à essai et qu'il se réfléchisse sur un miroir de grande qualité, il retourne alors
à travers la même partie de l'élément soumis à essai vers l'interféromètre. Alors, la déformation du
front d'onde observée est égale à deux fois la déformation du front d'onde (en simple passe) (défini dans
l'ISO 14999-4). Cela signifie que la déformation du front d'onde est égale à la moitié de la déformation
du front d'onde observée.
Si le front d'onde est trop déformé par l'élément soumis à essai, alors, les rayons individuels ne passent
pas par les mêmes positions de l'élément soumis à essai sur le trajet de retour et la déformation du front
d'onde n'est pas exactement égale à deux fois celle résultant d'une configuration en simple passe.
La déformation du front d'onde donnée est valide uniquement au front d'onde spécifié.
Les tolérances de déformation du front d'onde sont indiquées en spécifiant les valeurs maximales
admises de l'écart de puissance, de l'irrégularité et/ou de l'irrégularité à symétrie de révolution. De
plus, il est possible de spécifier les tolérances pour les trois mesures des moyennes quadratiques (rms)
de la déformation du front d'onde (moyenne quadratique totale, moyenne quadratique d'irrégularité et
moyenne quadratique d’irrégularité
...

ISO/TC 172/SC 1
Deleted: 03‐21
Date:  2018‐10
Deleted: /FDIS
ISO/TC 172/SC 1/GT 2
Secrétariat:  DIN
Optique et photonique — Préparation des dessins pour éléments et
systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de déformation du front
d'onde
Optics and photonics — Preparation of drawings for optical elements and systems — Part 14: Wavefront
deformation tolerance
Type du document: Norme internationale
Sous‐type du document:
Stade du document: (50) Approbation
Langue du document: F
STD Version 2.9a
Avant-propos
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le
droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir
www.iso.org/directives).
L'ISO (Organisation internationale de normalisation) est une fédération mondiale d'organismes
nationaux de normalisation (comités membres de l'ISO). L'élaboration des Normes internationales est
en général confiée aux comités techniques de l'ISO. Chaque comité membre intéressé par une étude a le
droit de faire partie du comité technique créé à cet effet. Les organisations internationales,
gouvernementales et non gouvernementales, en liaison avec l'ISO participent également aux travaux.
L'ISO collabore étroitement avec la Commission électrotechnique internationale (IEC) en ce qui
concerne la normalisation électrotechnique.
Les procédures utilisées pour élaborer le présent document et celles destinées à sa mise à jour sont
décrites dans les Directives ISO/IEC, Partie 1. Il convient, en particulier, de prendre note des différents
critères d'approbation requis pour les différents types de documents ISO. Le présent document a été
rédigé conformément aux règles de rédaction données dans les Directives ISO/IEC, Partie 2 (voir
www.iso.org/directives).
L'attention est attirée sur le fait que certains des éléments du présent document peuvent faire l'objet de
droits de propriété intellectuelle ou de droits analogues. L'ISO ne saurait être tenue pour responsable
de ne pas avoir identifié de tels droits de propriété et averti de leur existence. Les détails concernant les
références aux droits de propriété intellectuelle ou autres droits analogues identifiés lors de
l'élaboration du document sont indiqués dans l'Introduction et/ou dans la liste des déclarations de
brevets reçues par l'ISO (voir www.iso.org/brevets).
Les appellations commerciales éventuellement mentionnées dans le présent document sont données
pour information, par souci de commodité, à l’intention des utilisateurs et ne sauraient constituer un
engagement.
Pour une explication de la nature volontaire des normes, la signification des termes et expressions
spécifiques de l'ISO liés à l'évaluation de la conformité, ou pour toute information au sujet de l'adhésion
de l'ISO aux principes de l’Organisation mondiale du commerce (OMC) concernant les obstacles
techniques au commerce (OTC), voir www.iso.org/avant‐propos.
Le présent document a été élaboré par le Comité Technique ISO/TC 172, Optique et photonique, Sous‐
Comité SC 1, Normes fondamentales.
© ISO 2018 – Tous droits réservés
ii
Cette troisième édition annule et remplace la deuxième édition (ISO 10110‐14:2007), qui a fait l’objet
Deleted: été techniquement révisé
et inclue les modifications
d’une révision technique. Les principales modifications par rapport à l’édition précédente sont les
suivantes:
— le présent document a été adapté à l'ISO 10110‐5 qui inclut l'utilisation des surfaces générales.
— un nouveau paragraphe «Formes supplémentaires» a été ajouté en 5.2.2, qui inclut «l’Écart du front Deleted: inclue «l’Ecart
d’ondes PV et PC robuste» et «l’Écart du front d’ondes décrit par les coefficients Zernike».
Deleted: l’Ecart
— des exemples ont été ajoutés à l’Article 6.
— le paragraphe 4.5 a été supprimé.
Une liste de toutes les parties de la série ISO 10110 peut être trouvée sur le site internet de l’ISO.
Il convient que l’utilisateur adresse tout retour d’information ou toute question concernant le présent
document à l’organisme national de normalisation de son pays. Une liste exhaustive desdits organismes
se trouve à l’adresse www.iso.org/fr/members.html.
© ISO 2018 – Tous droits réservés
iii
Introduction
Le présent document permet de spécifier une tolérance fonctionnelle pour la performance (exprimée en
longueurs d'ondes de déformation du front d'onde en simple passe) d'un système optique. Cette
tolérance comprend donc l'effet des déformations de surface, les hétérogénéités et les interactions
possibles entre les différentes erreurs individuelles.
Les éléments optiques sont souvent soumis à essai dans une configuration en «double passe» où le front
d'onde passe à travers ou, dans le cas des systèmes optiques réfléchissants, se réfléchit sur l'élément
soumis à essai deux fois, comme illustré dans l'ISO/TR 14999‐1:2005, Figure 18.
© ISO 2018 – Tous droits réservés
iv
PROJET FINAL DE NORME INTERNATIONALE ISO 10110-14:2018(F)

Optique et photonique — Préparation des dessins pour
éléments et systèmes optiques — Partie 14: Tolérance de
déformation du front d'onde
1 Domaine d'application
Le présent document spécifie des règles pour indiquer la tolérance de déformation d'un front d'onde Deleted: La série de l'ISO 10110
spécifie la présentation des
transmis à travers ou, dans le cas des systèmes optiques réfléchissants, réfléchi sur un élément ou un
exigences de conception et des
sous‐ensemble optique dans la série de l'ISO 10110, qui normalise les indications sur les dessins pour
exigences fonctionnelles applicables
les systèmes et éléments optiques
aux éléments et aux systèmes
optiques sur les dessins techniques
Le présent document s’applique également lorsque les systèmes optiques avec des surfaces générales utilisés pour la fabrication et le
contrôle.¶
sont utilisés (ISO 10110‐19).
Deleted: . Il est possible que le
présent document soit utilisé
La déformation du front d'onde se réfère à sa déviation par rapport à la forme souhaitée (front d'onde
théorique nominal). L'inclinaison du front d'onde par rapport à une surface de référence donnée est
Deleted: qui utilisent
exclue du présent document.
Il n'y a pas d'exigence d'indication de la tolérance de déformation du front d'onde.
2 Références normatives
Les documents suivants cités dans le texte constituent, pour tout ou partie de leur contenu, des
exigences du présent document. Pour les références datées, seule l’édition citée s’applique. Pour les
références non datées, la dernière édition du document de référence s’applique (y compris les éventuels
amendements).
ISO 10110‐1, Optique et photonique — Indications sur les dessins pour éléments et systèmes optiques — Deleted:
Partie 1: Généralités
Deleted:
ISO 14999‐4, Optique et photonique — Mesurage interférométrique de composants et de systèmes Deleted:
optiques — Partie 4: Directives pour l'évaluation des tolérances spécifiées dans l'ISO 10110
Deleted:
3 Termes et définitions
Pour les besoins du présent document, les termes et définitions donnés dans
l’ISO 14999‐4 s’appliquent.
L’ISO et l’IEC tiennent à jour des bases de données terminologiques destinées à être utilisées en
normalisation, consultables aux adresses suivantes:
— ISO Online browsing platform: disponible à l’adresse https://www.iso.org/obp
— IEC Electropedia: disponible à l’adresse http://www.electropedia.org/
NOTE L'ISO 14999‐4 fournit les définitions pour toutes les fonctions de déformation.
© ISO 2018 – Tous droits réservés
4 Spécifications des tolérances de déformation du front d'onde
4.1 Généralités
Il est possible de spécifier une tolérance de déformation du front d'onde uniquement, sans avoir à
spécifier les tolérances de chaque surface. Dans ce cas, le fabricant doit s'assurer que le front d'onde
satisfait à la tolérance spécifiée. Cependant, le fabricant n'est pas lié par les tolérances de forme des Deleted: , mais il
surfaces individuelles de l'élément ou du système. Le fabricantet est libre, par exemple, de tolérer de
Deleted: et il
fortes déformations de surfaces pourvu qu'elles s'annulent mutuellement.
Il est également possible d'indiquer une tolérance de déformation du front d'onde, selon le présent
document, en plus des tolérances de forme des surfaces individuelles et/ou de l'hétérogénéité
(respectivement selon l'ISO 10110‐5 et l'ISO 10110‐18). Dans ce cas, le fabricant doit s'assurer que
Deleted: 4
toutes les tolérances individuelles (tolérances de forme de la surface et imperfections de matériaux)
sont satisfaites et également que le front d'onde possède la qualité spécifiée.
Dans le cas d'un essai en double passe, la déformation supplémentaire du front d'onde, causée pas le
second passage dans l'élément doit être prise en considération lorsque les résultats de mesure sont
comparés avec les tolérances spécifiées. Si le front d'onde n'est pas trop déformé en simple passe par
l'élément soumis à essai et qu'il se réfléchisse sur un miroir de grande qualité, il retourne alors à travers
la même partie de l'élément soumis à essai vers l'interféromètre. Alors, la déformation du front d'onde
observée est égale à deux fois la déformation du front d'onde (en simple passe) (défini dans
l'ISO 14999‐4). Cela signifie que la déformation du front d'onde est égale à la moitié de la déformation
du front d'onde observée.
Si le front d'onde est trop déformé par l'élément soumis à essai, alors, les rayons individuels ne passent
pas par les mêmes positions de l'élément soumis à essai sur le trajet de retour et la déformation du
front d'onde n'est pas exactement égale à deux fois celle résultant d'une configuration en simple passe.
La déformation du front d'onde donnée est valide uniquement au front d'onde spécifié.
Les tolérances de déformation du front d'onde sont indiquées en spécifiant les valeurs maximales
admises de l'écart de puissance, de l'irrégularité et/ou de l'irrégularité à symétrie de révolution. De
plus, il est possible de spécifier les tolérances pour les trois mesures des moyennes quadratiques (rms)
de la déformation du front d'onde (moyenne quadratique totale, moyenne quadratique d'irrégularité et
moyenne quadratique d’irrégularité à révolution variante). Voir l’ISO 14999‐4 pour les définitions.
NOTE 1 L'écart de puissance n'a de sens que lorsque l'emplacement de l'image est spécifié. Si l'emplacement
n'est pas spécifié, l'écart de puissance du front d'onde est égal à zéro par définition.
Deleted: égale
NOTE 2 Les méthodes de détermination de l'importance de l'écart de puissance, de l'irrégularité et de
l'irrégularité à symétrie de révolution pour un front d'onde sont spécifiées dans l'ISO 14999‐4.
Il n'est pas nécessaire de spécifier les tolérances pour tous les types de déformation du front d'onde.
Il n'est pas nécessaire qu'une tolérance à la déformation du front d'onde soit indiquée. Si une telle
tolérance est spécifiée, elle n'a pas préséance sur une tolérance de forme de surface selon l’ISO 10110‐5.
Si des tolérances sont indiquées à la fois pour la forme de surface et pour la déformation du front
d'onde, elles doivent toutes les deux être respectées.

En cours d’élaboration.
© ISO 2018 – Tous droits réservés
4.2 Unités
Il convient de spécifier en nanomètres les valeurs maximales admises pour l'écart de puissance,
l'irrégularité et l'irrégularité à symétrie de révolution et, le cas échéant, pour les aberrations cibles. Si
les longueurs d'onde doivent être utilisées, la longueur d'onde doit être indiquée sur le dessin.
NOTE 1 Ces quantités sont définies par référence à un front d'onde passant une fois à travers l'élément ou le
système soumis à essai (simple passe).
Si une spécification doit être fournie pour un ou plusieurs type(s) de déformation moyenne quadratique
du front d'onde, la spécification doit également être donnée en unités de longueurs d'onde (simple
passe, voir NOTE 1).
NOTE 2 Une «onde» est 1 × la longueur d'onde (en nanomètres) pour laquelle la déformation du front d'onde
est spécifiée.
NOTE 3 La spécification d'une tolérance pour le type de déformation moyenne quadratique exige que le
système optique soit digitalement analysé.
La terminologie d’interférométrie utilisant l’unité «onde» est largement utilisée pour la spécification
des tolérances. Cependant, l’utilisation de méthodes non interférométriques pour les essais des pièces
optiques est récemment devenue plus importante. De ce fait, contrairement aux versions antérieures du
présent document, le «nanomètre» est désormais l’unité normalisée privilégiée pour exprimer les
Deleted: les nanomètres sont
écarts du front d'onde. L’utilisation d'ondes est toujours autorisée étant donné que la longueur d’onde
Deleted: et normalisée
de référence est explicitement spécifiée.
4.3 Longueur d'onde
Si les unités d'onde doivent être utilisées, la longueur d'onde doit également être indiquée sur le dessin
pour réduire toute confusion. Si des longueurs d'onde différentes sont utilisées pour la mesure, des Deleted:
déformations du front d'onde calculées séparément sont nécessaires et peuvent être fournies comme
alternatives.
4.4 Aberrations cibles
Fréquemment, le front d'onde théorique nominal est sphérique ou plan. Dans certains cas, pour
permettre la présence de petites quantités d'aberration résiduelle dans la conception d'un système
optique, des valeurs cibles non nulles peuvent être spécifiées pour les types d'aberration polynomiale.
5 Indication sur
...